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  • WGL-8晶體電光調(diào)制實(shí)驗(yàn)儀

    WGL-8晶體電光調(diào)制實(shí)驗(yàn)儀由電場所引起的晶體折射率的變化,稱為電光效應(yīng).通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應(yīng)原理的激光振幅調(diào)制器的使用,掌握晶體電光調(diào)制的原理和實(shí)驗(yàn)方法;學(xué)會用簡單的實(shí)驗(yàn)裝置測量晶體半波電壓,電光常數(shù);觀察電光效應(yīng)引起的晶體光學(xué)特性的變化和會聚偏振光的干涉現(xiàn)象;進(jìn)行激光通信演示實(shí)驗(yàn)。

    更新時間:2024-11-28
    產(chǎn)品型號:WGL-8
    瀏覽量:1399
  • SGD-2單光子計數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

    SGD-2 單光子計數(shù)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),由單光子計數(shù)器,半導(dǎo)體制冷系統(tǒng),外光路光學(xué)系統(tǒng),光功率指示儀,工作軟件等組成。系統(tǒng)采用了脈沖高度甄別計數(shù)和數(shù)字計數(shù)技術(shù),具有較高的線性動態(tài)范圍。輸出的數(shù)字信號,便于計算機(jī)處理,為教師做相關(guān)教學(xué)提供了必要的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。

    更新時間:2024-11-28
    產(chǎn)品型號:SGD-2
    瀏覽量:1317
  • XGS-1電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

    XGS-1 電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變,是計算機(jī)圖像處理技術(shù)、激光技術(shù)以及全息干涉技術(shù)相結(jié)合的一種現(xiàn)代光測技術(shù)。激光的高相干性使散斑現(xiàn)象顯而易見,采用CCD攝像機(jī),使之可采用計算機(jī)處理數(shù)據(jù)和圖像。電子散斑干涉應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、振動測量等。

    更新時間:2024-11-28
    產(chǎn)品型號:XGS-1
    瀏覽量:1624
  • XGS-2激光散斑照相實(shí)驗(yàn)裝置

    XGS-2 激光散斑照相實(shí)驗(yàn)裝置 利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變,距離,速度測試,物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 1、拍攝自由空間散斑和成像散斑圖,了解激光散斑現(xiàn)象及其特點(diǎn) 2、掌握二次曝光散斑圖的逐點(diǎn)分析和全場分析測物體面內(nèi)位移的方法

    更新時間:2024-11-28
    產(chǎn)品型號:XGS-2
    瀏覽量:1359
  • XGS-3電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

    XGS-3 電子及激光散斑實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 本實(shí)驗(yàn)包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進(jìn)行物體表面面內(nèi)位移場的測試,以及由此引伸出來的應(yīng)變、應(yīng)力場測試、距離、速度測試、物體內(nèi)在缺陷和振動分析是散斑效應(yīng)有前途的應(yīng)用領(lǐng)域。

    更新時間:2024-11-28
    產(chǎn)品型號:XGS-3
    瀏覽量:1407
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